000 00859nam0a22001930004500
005 20191016170229.0
020 _a9747949008
049 _bSPU-BK
050 0 0 _aTA 417.2
_bช215ก 2543
100 0 _aฟูจิอิ ซาโตะ
_97672
245 1 0 _aการทดสอบแบบไม่ทำลาย
250 _aNon destructive testing,พิมพ์ครั้งที่ 6.
260 _aกรุงเทพฯ:
_bสมาคมส่งเสริมเทคโนโลยี (ไทย-ญี่ปุ่น),
_c2543
300 _a318 หน้า
650 4 _aการทดสอบโดยไม่ทำลาย
_97673
700 1 _aปริทรรศน์ พันธุบรรยงก์
_96138
942 _cGEN
999 _c5651