000 00865nam0a22001810004500
005 20170210183537.0
020 _a9747949008
050 0 0 _aTA 417.2
_bซ215ก 2538
100 0 _aฟูจิอิ ซาโตะ
_97672
245 1 0 _aการทดสอบแบบไม่ทำลาย
250 _aNon destructive testing,พิมพ์ครั้งที่ 3.
260 _aกรุงเทพฯ:
_bสมาคมส่งเสริมเทคโนโลยี (ไทย-ญี่ปุ่น),
_c2538
300 _a318 หน้า
650 4 _aการทดสอบแบบไม่ทำลาย
_919000
942 _cGEN
999 _c32261